Cover Image

The cover image is based on the Research Article A method to study the electric field distribution on sample surfaces in atom probe analysis by Sunwei Chen et al., https://doi.org/10.1002/sia.6756.

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Surface and interface analysis 2020-08, Vol.52 (8), p.i-i
Hauptverfasser:	Chen, Sunwei, Suzuki, Takumi, Tomiyasu, Bunbunoshin, Owari, Masanori
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Atom probe analysis Electric fields Layouts
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	The cover image is based on the Research Article A method to study the electric field distribution on sample surfaces in atom probe analysis by Sunwei Chen et al., https://doi.org/10.1002/sia.6756.
ISSN:	0142-2421 1096-9918
DOI:	10.1002/sia.6862