Introduction to the Proceedings of CISCEM 2018 - the 4th Conference on In-Situ and Correlative Electron Microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2019-02, Vol.25 (S1), p.1-2
Hauptverfasser:	de Jonge, Niels, Mølhave, Kristian, Alloyeau, Damien
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	CISCEM 2018 - 4th Conference on In-Situ and Correlative Electron Microscopy October 10 - 12, 2018, Saarbrücken, Germany Electron microscopy
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