Indium Aluminum Zinc Oxide Phototransistor With HfO2 Dielectric Layer Through Atomic Layer Deposition

Bottom-gate indium aluminum zinc oxide thin-film transistors (TFTs) are fabricated with a HfO 2 dielectric layer using plasma enhanced atomic layer deposition (PEALD). The electrical properties and photoresponse are both affected by the method of post annealing. A device that is annealed at a temper...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE sensors journal 2020-02, Vol.20 (4), p.1838-1842
Hauptverfasser: Cheng, T. H., Chang, S. P., Cheng, Y. C., Chang, S. J.
Format: Artikel
Sprache:eng
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