Erratum: “Deep level defects in n-type GaAsBi and GaAs grown at low temperatures” [J. Appl. Phys. 113 , 133708 (2013)]

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied physics 2015-01, Vol.117 (1)
Hauptverfasser: Mooney, P. M., Watkins, K. P., Jiang, Zenan, Basile, A. F., Lewis, R. B., Bahrami-Yekta, V., Masnadi-Shirazi, M., Beaton, D. A., Tiedje, T.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-8979
1089-7550
DOI:10.1063/1.4905390