Effects of Charge Transfer in Atomic Bonding on HAADF-STEM Image Simulation

Effects of Charge Transfer in Atomic Bonding on HAADF-STEM Image Simulation

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2013 in Indianapolis, Indiana, USA, August 4 – August 8, 2013.

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2013-08, Vol.19 (S2), p.602-603
Hauptverfasser: Odlyzko, M.L., Mkhoyan, K.A.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
A05.03 Revisiting Resolution for STEM and TEM
Atomic bonding
Charge transfer
Chemical bonds
Instrumentation Sciences
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2013 in Indianapolis, Indiana, USA, August 4 – August 8, 2013.
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S143192761300500X