A Scanning Transmission X-Ray Microscope at the PLS: New Detection Modes

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2018-08, Vol.24 (S2), p.200-201
Hauptverfasser: Shin, Hyun-Joon, Kim, Namdong, Kim, Hee Seob
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927618013351