Installation of Lau Interferometer into X-Ray Microscope system for Phase-CT Measurement

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2018-08, Vol.24 (S2), p.188-189
Hauptverfasser: Takano, Hidekazu, Nagatani, Yukinori, Lian, Songzhe, Hashimoto, Koh, Wu, Yanlin, Momose, Atsushi
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927618013296