Correlative In-Situ Analysis on the Nanoscale by combination of AFM and SEM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2018-08, Vol.24 (S1), p.1922-1923
Hauptverfasser:	Winhold, M., Leitner, M., Frank, P., Hosseini, N., Sattelkov, J., Fantner, G.E., Plank, H., Schwalb, C.H.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Correlation analysis In-situ Methods for Probing Properties and Dynamics in Materials Physical Science Symposia
Online-Zugang:	Volltext
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