Atomic Electron Tomography: Adding a New Dimension to See Single Atoms in Materials

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2018-08, Vol.24 (S1), p.558-559
Hauptverfasser:	Miao, Jianwei, Yang, Yongsoo, Zhou, Jihan, Tian, Xuezeng, Yang, Yao, Kim, Dennis S., Pryor, Alan, Ercius, Peter, Ophus, Colin, Scott, M. C., Chen, Chien-Chun, Theis, Wolfgang, Eisenbach, Markus, Kent, Paul R. C., Sabirianov, Renat F., Zeng, Hao
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical and Instrumentation Science Symposia Data Analytics and Model-based Imaging for Microstructure and Physical Property Interpretations
Online-Zugang:	Volltext
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