Exit-Wave Reconstruction and Phase Analysis Using a Hitachi SU9000 FE-SEM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2018-08, Vol.24 (S1), p.492-493
Hauptverfasser:	Rudinsky, S., Gauvin, R.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical and Instrumentation Science Symposia Machine Learning and Compressive Sensing for Signal Processing and Image Reconstruction in Microscopy and Microanalysis
Online-Zugang:	Volltext
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