Optical Modulator P/N Junction Mapping by Electron Holography and Scanning Capacitance Microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2018-08, Vol.24 (S1), p.1464-1465
Hauptverfasser:	Wang, Y. Y., Nxumalo, J., Jeon, J., Barton, K., Nummy, K.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances in Electron, X-ray and Neutron Spectro-imaging/Holography of Energy Materials and Devices Capacitance Holography P-n junctions Physical Science Symposia
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