Assessment of low-cycle fatigue life of Sn-3.5mass%Ag-X (X = Bi or Cu) alloy by strain range partitioning approach

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Veröffentlicht in:Journal of electronic materials 2001-09, Vol.30 (9), p.1184-1189
Hauptverfasser: KARIYA, Yoshiharu, MORIHATA, Tomoo, HAZAWA, Eisaku, OTSUKA, Masahisa
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0361-5235
1543-186X
DOI:10.1007/s11664-001-0148-2