Characterization of HgCdTe p-on-n heterojunction photodiodes and their defects using variable-area test structures

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of electronic materials 1997-06, Vol.26 (6), p.635-642
Hauptverfasser:	Weiler, M. H., Tarnowski, G. J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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