Certified Reference Material for Strain Measurement Using EBSD

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2015-08, Vol.21 (S3), p.1895-1896
Hauptverfasser:	Vaudin, M.D., Osborn, W.A., Friedman, L.H., Siebein, K.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	A10 Advances in Electron Diffraction and Automated Mapping Techniques Accuracy Analytical and Instrumentation Science Symposia Electrons Software Spectrum analysis Strain measurement
Online-Zugang:	Volltext
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