Atomic Resolution Imaging of Black Spot Defects in Ion Irradiated Silicon Carbide

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2015-08, Vol.21 (S3), p.1337-1338
Hauptverfasser:	He, Li, Jiang, Hao, Zhai, Yizhang, Liu, Cheng, Szlufarska, Izabela, Tyburska-Puschel, Beata, Sridharan, Kumar, Voyles, Paul
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Carbon P05 Nuclear and Irradiated Materials: Fundamental Defect Properties Physical Science Symposia Radiation Silicon carbide
Online-Zugang:	Volltext
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