Atomic-scale Mechanisms of Defect-Induced Retention Failure in Ferroelectric Materials

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2015-08, Vol.21 (S3), p.1307-1308
Hauptverfasser:	Li, L., Xie, L., Zhang, Y., Jokisaari, J. R., Christen, H.M., Pan, X. Q.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Ferroelectrics P02 Materials Problem Solving with Aberration-Corrected EM Physical Science Symposia
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!