Data Quality Improvements in the Voltage-Pulsed LEAP 5000 R/XR

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2015-08, Vol.21 (S3), p.41-42
Hauptverfasser:	Ulfig, R.M., Prosa, T.J., Lenz, D.R, Payne, T.R.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	A13 Advancing Data Collection and Analysis for Atom Probe Tomography Analytical and Instrumentation Science Symposia Microscopy Tomography
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!