Aberration Corrected High Angle Annular Dark Field (HAADF) Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) and In Situ Transmission Electron Microscopy (TEM) Study of Transition Metal Dichalcogenides (TMDs)

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2015-08, Vol.21 (S3), p.431-432
Hauptverfasser:	Wang, Jinguo, Lu, Ning, Pablo Oviedo, Juan, Peng, Xin, Lian, Guoda, Kim, Moon J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Chemical vapor deposition Electrons Graphene Molecular beam epitaxy P04 Nano-Characterization of Low Dimensional Materials: Carbon to 2D TMDs Phase transitions Physical Science Symposia Semiconductor research Shear strength Transmission electron microscopy
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!