Exploring Low-dimensional Carbon Materials by High-resolution Electron and Scanned Probe Microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2015-08, Vol.21 (S3), p.1147-1148
Hauptverfasser: Meyer, Jannik C., Kotakoski, Jani, Argentero, Giacomo, Mangier, Clemens, Bayer, Bernhard, Kramberger-Kaplan, Christian, Eder, Franz, Hummel, Stefan, Elibol, Kenan, Mittelberger, Andreas
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927615006522