High Spatial/Energy Resolution Band Gap Measurements: Delocalization and Other Effects in a Monochromated Cold FEG Nion Dedicated STEM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2015-08, Vol.21 (S3), p.657-658
Hauptverfasser:	Carpenter, R. W., Xie, H., Aoki, T., Ponce, F. A.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	A06 Advanced Analytical TEM/STEM Analytical and Instrumentation Science Symposia Energy Interfaces Microscopy
Online-Zugang:	Volltext
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