Quantitative Nano-Analysis of Superconducting Materials via SEM-FIB 3D-EDS Tomography

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2015-08, Vol.21 (S3), p.1341-1342
Hauptverfasser:	Pavia, Giuseppe, Kienle, Martin, Schulmeyer, Ingo, Bauer, Frank, Cantoni, Marco, Lagarec, Ken
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	P07 Metallography and Microstructural Characterization of Metals Physical Science Symposia
Online-Zugang:	Volltext
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