Retrieving Atomic Structure from Dynamical Rocking Curve Measurements in both Real and Reciprocal Space

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2016-07, Vol.22 (S3), p.920-921
Hauptverfasser:	Koch, Christoph T., Van den Broek, Wouter, Wang, Feng, Pennington, Robert S.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical and Instrumentation Science Symposia Quantitative Measurement of Intensities and Distances in Electron Microscopy
Online-Zugang:	Volltext
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