A Ge/SiNx Standard for Evaluating the Performance of X-ray Detectors in the SEM, S/TEM and AEM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2016-07, Vol.22 (S3), p.322-323
Hauptverfasser:	Zaluzec, Nestor J., DesOrmeaux, Jon-Paul, Roussie, James
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical and Instrumentation Science Symposia Analytical Electron Microscopy for Advanced Characterization from Multi-Dimensional Data Acquisition to Integrated Analysis Electrons Islands Microscopy Sensors
Online-Zugang:	Volltext
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