Polarization Control via He-ion Beam Induced Nanofabrication in Layered Ferroelectric Semiconductors

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2016-07, Vol.22 (S3), p.158-159
Hauptverfasser:	Belianinov, A., Iberi, V., Tselev, A., Susner, M., McGuire, M., Joy, D., Jesse, S., Rondinone, A. J., Kalinin, S. V., Ovchinnikova, O. S.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances in FIB Instrumentation and Applications in Materials and Biological Sciences Analytical and Instrumentation Science Symposia Ferroelectrics
Online-Zugang:	Volltext
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