Fluctuation Electron Microscopy and Computational Structure Refinement for the Structure of Amorphous Materials

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2016-07, Vol.22 (S3), p.486-487
Hauptverfasser:	Maldonis, Jason, Zhang, Pei, He, Li, Gujral, Ankit, Ediger, Mark D., Voyles, Paul M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advanced Scanning Diffraction: Mapping Functionality in Reciprocal Space at Nanometer Resolution Analytical and Instrumentation Science Symposia Crystal structure Glass Microscopy Symmetry Thin films
Online-Zugang:	Volltext
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