Study of Direct Lithiation of Thin Si Membranes with Spatially-Correlative Low Energy Focused Li Ion Beam and Analytical Electron Microscopy Techniques

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2016-07, Vol.22 (S3), p.1556-1557
Hauptverfasser:	Oleshko, V.P., Twedt, K.A., Soles, C.L., McClelland, J.J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Electrons Energy storage Ion beams Microscopy Microscopy for Thin Films of Metals, Semiconductors and Insulators Physical Science Symposia
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!