Ultra-High Vacuum Aberration-Corrected STEM for in-situ studies

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2016-07, Vol.22 (S3), p.34-35
Hauptverfasser:	Hotz, M.T., Corbin, G.J., Dellby, N., Krivanek, O.L., Mangier, C., Meyer, J.C.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical and Instrumentation Science Symposia Electrons Microscopy Vendor Symposium: New Tools for Life and Materials Sciences
Online-Zugang:	Volltext
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