Measurement of Atomic Electric Fields by Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Employing Ultrafast Detectors

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2016-07, Vol.22 (S3), p.484-485
Hauptverfasser:	Müller-Caspary, Knut, Krause, Florian F., Béché, Armand, Duchamp, Martial, Schowalter, Marco, Löffler, Stefan, Migunov, Vadim, Winkler, Florian, Huth, Martin, Ritz, Robert, Ihle, Sebastian, Simson, Martin, Ryll, Henning, Soltau, Heike, Strüder, Lothar, Zweck, Josef, Schattschneider, Peter, Dunin-Borkowski, Rafal, Verbeeck, Johan, Rosenauer, Andreas
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advanced Scanning Diffraction: Mapping Functionality in Reciprocal Space at Nanometer Resolution Analytical and Instrumentation Science Symposia Electric fields Electrons Fourier transforms Sensors Simulation Transmission electron microscopy
Online-Zugang:	Volltext
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