New Data Analysis Tools for X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and Spectroscopic Ellipsometry (SE): Uniqueness Plots and Width Functions in XPS, and Distance, Principal Component, and Cluster Analyses in SE

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2016-07, Vol.22 (S3), p.344-345
Hauptverfasser:	Linford, Matthew R., Singh, Bhupinder, Velázquez, Daniel, Terry, Jeff, Bagley, Jacob D., Tolley, Dennis H., Diwan, Anubhav, Jain, Varun, Herrera-Gomez, Alberto
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical and Instrumentation Science Symposia Data analysis Electrons Surface and Subsurface Microscopy and Analysis Variables
Online-Zugang:	Volltext
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