Pushing the Limits of Fast Acquisition in TEM Tomography and 4D-STEM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2016-07, Vol.22 (S3), p.512-513
Hauptverfasser:	Simson, M., Dunin-Borkowski, R.E., Hartmann, R., Huth, M., Ihle, S., Jones, L., Kondo, Y., Migunov, V., Nellist, P.D., Ritz, R., Ryll, H., Sagawa, R., Schmidt, J., Soltau, H., Strüder, L., Yang, H.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advanced Scanning Diffraction: Mapping Functionality in Reciprocal Space at Nanometer Resolution Analytical and Instrumentation Science Symposia Cameras Microscopy Radiation Tomography
Online-Zugang:	Volltext
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