Electric and Magnetic Field Mapping With the pnCCD (S)TEM Camera

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2016-07, Vol.22 (S3), p.256-257
Hauptverfasser:	Huth, M., Ihle, S., Ritz, R., Simson, M., Soltau, H., Migunov, V., Duchamp, M., Dunin-Borkowski, R.E., Ryll, H., Strüder, L.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical and Instrumentation Science Symposia Analytical Electron Microscopy for Advanced Characterization from Multi-Dimensional Data Acquisition to Integrated Analysis Cameras Magnetic fields Microscopy
Online-Zugang:	Volltext
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