Atomic Resolution Study of Local Strains in Doped VO2 Nanowires

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2014-08, Vol.20 (S3), p.1074-1075
Hauptverfasser:	Asayesh-Ardakani, Hasti, Nie, Anmin, Marley, Peter M., Singh, Sujay, Philips, Patrick J., Mashayek, Farzad, Sambandamurthy, Ganapathy, Low, Ke-bin, Klie, Robert F., Banerjee, Sarbajit, Odegard, Gregory M., Shahbazian-Yassar, Reza
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances in Instrumentation Symposia Extended Crystal Defects: Quantification of Strain, Local Atomic Structure and Chemistry
Online-Zugang:	Volltext
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