The Practical Aspects of ToF-SIMS Analysis in the Industrial and Contract Laboratory Setting

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2014-08, Vol.20 (S3), p.2098-2099
Hauptverfasser:	Hagenhoff, Birgit, Tallarek, Elke, Fartmann, Michael, Kersting, Reinhard
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Physical Sciences Symposia Surface & Subsurface Microscopy & Microanalysis in Materials & Biological Systems
Online-Zugang:	Volltext
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