Using Nion Swift for Data Collection, Analysis and Display

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2014-08, Vol.20 (S3), p.1108-1109
Hauptverfasser: Meyer, C.E., Dellby, N., Dellby, Z., Lovejoy, T.C., Sarahan, M.C., Skone, G.S., Krivanek, O.L.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927614007272