Quantitative EDX and EELS Elemental Mapping at Atomic Resolution

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2014-08, Vol.20 (S3), p.570-571
Hauptverfasser:	Kothleitner, G., Neish, M. J., Lugg, N. R., Findlay, S. D., Grogger, W., Hofer, F., Allen, L. J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances in Instrumentation Symposia Frontiers in Analytical TEM-STEM
Online-Zugang:	Volltext
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