Investigation of Bi Segregation of Cu Bicrystal Boundaries Using Aberration-Corrected STEM Depth Sectioning

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2014-08, Vol.20 (S3), p.1080-1081
Hauptverfasser:	Wade, C. A., Watanabe, M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances in Instrumentation Symposia Extended Crystal Defects: Quantification of Strain, Local Atomic Structure and Chemistry
Online-Zugang:	Volltext
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