An Electron Microscopic Investigation of (1/3) < 0ī11 > Dislocations in Bi2Te3 Nanowires: Defect Crystallography and Relationship to 7-layer Bi3Te4 Defects

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2014-08, Vol.20 (S3), p.1088-1089
Hauptverfasser:	Medlin, D.L., Erickson, K.J., Limmer, S.J., Yelton, W.G., Siegal, M.P.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances in Instrumentation Symposia Crystallography Extended Crystal Defects: Quantification of Strain, Local Atomic Structure and Chemistry
Online-Zugang:	Volltext
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