A Simplified Approach to Determining Resolution of Optical, Ion and Electron Microscope Images

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2014-08, Vol.20 (S3), p.984-985
Hauptverfasser:	Curtin, A. E., Skinner, R., Sanders, A.W.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances in Instrumentation Symposia Correlative Microscopy and Microanalysis from Macro to Pico
Online-Zugang:	Volltext
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