Determining the Thickness of Atomically Thin MoS2 and WS2 in the TEM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2014-08, Vol.20 (S3), p.1796-1797
Hauptverfasser:	Wu, Ryan J., Odlyzko, Michael L., Andre Mkhoyan, K.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Carbon Nanomaterials and Related Counterparts: Recent Results and Challenges Physical Sciences Symposia
Online-Zugang:	Volltext
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