Xenon Focused Ion Beam in the Shape Memory Alloys Investigation - The Case of NiTi and CoNiAl

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2014-08, Vol.20 (S3), p.334-335
Hauptverfasser:	Kopeček, J., Jurek, K., Kopecký, V., Klimša, L., Seiner, H., Sedlák, P., Landa, M., Dluhoš, J., Petrenec, M., Hladík, L., Doupal, A., Heczko, O.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	15 Years of Focused Ion Beams at M & M Advances in Instrumentation Symposia Xenon
Online-Zugang:	Volltext
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