Elemental Quantification and Visualization of GaN Structures using APT and SIMS

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2014-08, Vol.20 (S3), p.2112-2113
Hauptverfasser:	Giddings, A. D., Prosa, T. J., Merkulov, A., Stevie, F. A., Francois-Saint-Cyr, H. G., Young, N. G., Speck, J. S., Larson, D. J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Physical Sciences Symposia Surface & Subsurface Microscopy & Microanalysis in Materials & Biological Systems
Online-Zugang:	Volltext
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