High-Speed, Simultaneous EELS and EDS STEM-SI Acquisition

High-Speed, Simultaneous EELS and EDS STEM-SI Acquisition

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona, USA, July 29 – August 2, 2012.

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2012-07, Vol.18 (S2), p.418-419
Hauptverfasser: Twesten, R., Longo, P., Aitouchen, A., Thomas, P.J.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Applications of Aberration-Corrected STEM and SEM-09
Instrumentation Symposium
Sensors
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona, USA, July 29 – August 2, 2012.
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927612003947