Surface Preparation for Characterizing Microstructure on Transuranic Oxides by Electron Backscatter Spectroscopy and Ion Beam Imaging

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona, USA, July 29 – August 2, 2012.

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2012-07, Vol.18 (S2), p.708-709
Hauptverfasser:	Papin, P.A., Chris, C., Forsyth, R.T., Luther, E.P., Necker, C.T.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Channeling Effects in Microscopy and Microanalysis-04 Instrumentation Symposium
Online-Zugang:	Volltext
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