Cryo FIB preparation of viscous samples for cryo-TEM

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona, USA, July 29 – August 2, 2012.

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2012-07, Vol.18 (S2), p.656-657
1. Verfasser:	Kupsta, M.R.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Focused Ion Beam Instrumentation & Applications for Physical and Biological Sciences-05 Instrumentation Symposium
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona, USA, July 29 – August 2, 2012.
ISSN:	1431-9276 1435-8115
DOI:	10.1017/S1431927612005132