Photoemission Processes for Ultrafast TEM

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona, USA, July 29 – August 2, 2012.

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2012-07, Vol.18 (S2), p.582-583
Hauptverfasser:	Schroeder, W.A., Berger, J.A., Nicholls, A.W., Zaluzec, N.J., Miller, D.J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Electrons Instrumentation Symposium Laser Mediated Processes for High-Contrast, High-Resolution, Ultrafast and In-situ TEM-01 Lasers Microscopy
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona, USA, July 29 – August 2, 2012.
ISSN:	1431-9276 1435-8115
DOI:	10.1017/S143192761200476X