Improving the RF performance of 0.18 [micro]m CMOS with deep n-well implantation

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE electron device letters 2001-10, Vol.22 (10), p.481
Hauptverfasser:	Su, Jiong-Guang, Hsu, Heng-Ming, Wong, Shyh-Chyi, Chang, Chun-Yen, Huang, Tiao-Yuan, Sun, Jack Yuan-Chen
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!