Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Yeung, Dit-Yan, Kwok, James T, Fred, Ana, Roli, Fabio, de Ridder, Dick
Format:	Buch
Sprache:	eng
Schlagworte:	Congresses Pattern recognition systems
Online-Zugang:	Volltext
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