Comparison of instabilities in scaled CMOS devices between plastic and hermetically encapsulated devices

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE transactions on electron devices 1983, Vol.ED 30 (10), p.1305-1313
Hauptverfasser:	NOYORI, M, NAKATA, Y, SHIRAGASAWA, T
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electronics Exact sciences and technology Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Transistors
Online-Zugang:	Volltext
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