Charge fluctuations in SiO2-Si interface

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International journal of electronics 1984, Vol.57 (3), p.379-389
Hauptverfasser:	NAKHMANSON, R. S, SEVASTIANOV, S. B
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electronics Exact sciences and technology Interfaces Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
Online-Zugang:	Volltext
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