Tools and techniques for VLSI quality

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	AT&T technical journal 1986-03, Vol.65 (2), p.77-84
Hauptverfasser:	GOKSEL, A. K, SEKINO, W. T, TROUTMAN, W. W
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
Online-Zugang:	Volltext
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